Stratistics MRCによると、故障解析の世界市場は2022年に47億4000万ドルを占め、予測期間中にCAGR10.3％で成長し、2028年には85億4000万ドルに達すると予測されています。故障解析は、故障の原因究明と製品への修正を行うプロセスである。材料科学、バイオサイエンスなどの分野で広く利用されています。これらのプロセスでは、主に構造物、組立品、部品における故障を扱う。故障の認識は、製品の物理的な調査を含む多層的なプロセスである。このプロセスは、問題を認識し、製品に本質的な変更を加えることができるこれらの分野の専門家によって行われます。
カナダ統計局2021年によると、カナダは2020年にインフラ資産に816億カナダドルを投資し、過去4年間に行われた投資の傾向を続けている。これらの投資は、1500億カナダドルから1兆カナダドルまでと推定される国のインフラ格差に対処するために極めて重要です。
ナノテクノロジーは、様々な用途別に市場に出てきている技術です。世界中の官民両セクターからの絶え間ない支援により、様々な産業で商業化されています。実際、既存の製品を大幅に強化し、将来の大きなチャンスを可能にする巨大な可能性を秘めています。さらに、北米、ドイツ、フランス、英国などもナノテクノロジーに多額の資金を投じており、この技術の重要性と急速な成長が世界的に認められています。ナノテクノロジーは新たな研究分野であり、過去10年間で成長を続けています。したがって、これらの要因は、予測期間中に世界の故障解析装置市場の成長を促進することが期待されます。
ほとんどの産業では、設置費用が不足しています。故障解析装置に投資する資金がないことは、需要に影響を与える可能性があります。別途出費が必要な高価な技術である。メンテナンスとサービスのコストは、どのような組織にも多くの費用を追加することができます。したがって、これは市場成長の抑制要因の1つとして作用します。
専門家による労働集約的な故障解析は、技術別よりも効果的ではありません。この技術では、製造工程の前に、製品のあらゆる不具合を検出することができます。技術別のこれらの高度な機能は、あらゆる産業のコストと時間を節約することができます。製造後の最終製品を特定することは、どの企業にとっても多大な収益損失をもたらす可能性があります。しかし、故障解析技術の優れた機能により、製品のエラーを検出することで、多くのコストを削減することができます。さらに、故障解析市場には技術革新とバリエーションがあると予想されます。新たなバリエーションにより、エンドユーザーからの需要も高まるだろう。
故障解析装置の運用・管理には、熟練した人材が必要です。これらの人材は、装置に関する十分なトレーニングと知識を有していることが必要です。しかし、そのような熟練した専門家は先進国には存在します。したがって、これらの要因は、予測期間中の市場の成長を脅かす。
コビット19は、多くの世界市場のダイナミクスを変化させています。ウイルスの発生は、産業の成長に影響を及ぼしています。世界の故障解析市場は、この期間中にいくつかの課題に直面しています。パンデミックが故障解析市場に与える影響は、直接的なものだけでなく間接的なものもある。市場への直接的な影響は、サプライチェーンの混乱と生産の鈍化です。経済危機は間接的に市場に影響を及ぼしています。また、エンドユーザーからの需要が少ないことも、市場の成長に影響を与えています。故障解析は、専門家を必要とする複雑な技術です。故障解析は複雑な技術であり、専門家が必要ですが、システムの運用や解析の専門家が少ないため、作業が滞っています。今後数年間は、より多くの需要が見込まれます。
集束イオンビーム（FIB）システムセグメントは、予測期間中に最大となる見込みです。このセグメントの急成長は、材料科学とバイオサイエンス用途でのFIBシステムの採用が増加していることに起因しています。商業的にフォーカスされたFIBの開発により、材料科学分野での用途が拡大しています。回路編集や透過型電子顕微鏡（TEM）サンプル作製に加え、微細構造解析やナノマシニングのプロトタイピングにもFIBが使用されるようになりました。
予測期間中、半導体分野の CAGR が最も高くなると予想されます。小型トランジスタチップ、ナノエレクトロニクス、量子ドット、オプトエレクトロニクスの需要拡大が、半導体業界の故障解析市場を牽引しています。電子機器・半導体産業は、ロボット工学やオートメーションの導入が進んでいることから、世界的に成長している産業の一つです。電子・半導体産業では、高密度・高集積・小型化されたデバイスが必要とされています。
予測期間中、北米が最大の市場シェアを占めると予想される 北米は故障解析技術をいち早く導入している国である。スムーズな製造と製品納入を確立するために、より多く受け入れられています。北米には著名な産業が立地している。トップエンドのユーザーは、顧客に最高品質の製品を提供するために、より多くの技術に投資している。自動車産業とエネルギー産業では、故障解析プロセスの需要が高い。これらの要因から、北米は世界市場でトップの座を維持するものと思われます。
アジア太平洋地域は、台湾、中国、日本、韓国、インドなどの国々で半導体産業が集中していることから、予測期間中に最も高いCAGRを達成すると予測されています。半導体技術の記念碑的な成長と、この地域の教育や研究インフラへの投資の増加により、この注文は継続すると予想されます。
市場の主要企業
故障解析市場の主要企業には、FEI Company、Hitachi High, Technologies Corporation、Jeol Ltd.、CARL Zeiss SMT GmbH、Intertek Group PLC、Thermo Fisher Scientific Inc、Motion X Corporation、Tescan Orsay Holding, A.S. 、EAG (Evans Analytical Group) Inc.が含まれます。A&D Company Ltd., Raytheon Company (U.S.), Meyer Burger Technology, Canon Anelva Corporation, Veeco Instruments Inc, Bruker Corporation, Plasma-Therm, Scia Systems GmbH, EDAX, Inc, Innovative Circuits Engineering, Inc.
主な展開
2019年9月：サーモフィッシャーサイエンティフィックは、自動車サプライヤーやアディティブマニュファクチャリング企業が開発・生産で使用する材料の品質管理分析を迅速に行うための汎用的で直感的なデスクトップ走査電子顕微鏡（SEM）ソリューション「Thermo Scientific Phenom ParticleX」を発表しました。
2020年1月に 日本電子は、透過型電子顕微鏡関連技術に特化した起業家ベンチャーであるINTEGRATED DYNAMIC ELECTRON SOLUTIONS, INC.（米国）の全株式を取得しました。
2019年12月：株式会社日立ハイテクノロジーズが、先進のCD測定SEM（CD-SEM※1）「CG7300」を開発しました。CG7300は、高精度測定とスループット性能の向上を実現しました。
装置の対象
– 走査型電子顕微鏡(SEM)
– デュアルビームシステム
– 集束イオンビーム装置(FIB)
– 透過型電子顕微鏡(TEM)
対象技術別
– ブロードイオンミリング(BIM)
– 反応性イオンエッチング(RIE)
– 二次イオン質量分析装置(SIMS)
– 二次イオン質量分析装置(SIMS)
– エネルギー分散型X線分光法(EDX)
– 集束イオンビーム(FIB)
– 材料技術別
– 物理技術別
– 非破壊検査技術 (NDT)
対象となる用途別
– バイオサイエンス
– 材料科学
– インダストリアルサイエンス
対象地域
– 北米
o 米国
カナダ
o メキシコ
– ヨーロッパ
o ドイツ
o 英国
o イタリア
o フランス
o スペイン
o その他のヨーロッパ
– アジア太平洋地域
o 日本
o 中国
o インド
o オーストラリア
o ニュージーランド
o 韓国
o その他のアジア太平洋地域
– 南米
o アルゼンチン
o ブラジル
o チリ
o 南米のその他
– 中東・アフリカ
o サウジアラビア
o UAE
o カタール
o 南アフリカ
o その他の中東・アフリカ地域
【目次】
1 エグゼクティブサマリー
2 前書き
2.1 概要
2.2 ステークホルダー
2.3 調査範囲
2.4 調査方法
2.4.1 データマイニング
2.4.2 データ分析
2.4.3 データバリデーション
2.4.4 リサーチアプローチ
2.5 リサーチソース
2.5.1 一次調査資料
2.5.2 セカンダリーリサーチソース
2.5.3 前提条件
3 市場トレンドの分析
3.1 はじめに
3.2 ドライバ
3.3 制約
3.4 オポチュニティ
3.5 脅威
3.6 技術別分析
3.7 用途別分析
3.8 新興国市場
3.9 Covid-19の影響
4 ポーターズファイブフォース分析
4.1 供給者のバーゲニングパワー
4.2 バイヤーの交渉力
4.3 代替品の脅威
4.4 新規参入者の脅威
4.5 競争相手との競合
5 故障解析の世界市場、装置別
5.1 はじめに
5.2 走査型電子顕微鏡(SEM)
5.3 デュアルビームシステム
5.4 集束イオンビーム装置(FIB)
5.5 透過電子顕微鏡(TEM)
6 故障解析の世界市場、試験別
6.1 はじめに
6.2 物理試験
6.3 冶金学的試験
6.4 非破壊検査(NDT)
6.5 材料試験
6.6 電子部品故障解析
6.7 機械試験
6.8 化学試験
7 故障解析の世界市場、技術別
7.1 はじめに
7.2 広帯域イオンミリング(BIM)
7.3 反応性イオンエッチング(RIE)
7.4 二次イオン質量分析法(SIMS)
7.5 エネルギー分散型X線分光法(EDX)
7.6 集束イオンビーム(FIB)
7.7 材料技術別
7.8 故障解析の物理学
7.9 非破壊技術(NDT)
7.1 故障の木解析(FTA)
7.11 機能的故障解析
7.12 破壊的物理解析
7.13 スニーク回路解析
7.14 ソフトウェア故障解析
7.15 コモンモード故障解析
7.16 故障モード影響解析(FMEA)
7.17 故障モード影響致命度解析(FMECA)
7.18 その他技術別
8 故障解析の世界市場、用途別
8.1 はじめに
8.2 バイオサイエンス
8.2.1 神経科学
8.2.2 細胞生物学
8.2.3 バイオメディカル工学
8.2.4 構造生物学
8.3 マテリアルサイエンス
8.3.1 紙、繊維材料
8.3.2 高分子材料
8.3.3 ナノファブリケーション
8.3.4 セラミック、ガラス
8.3.5 金属・冶金
8.3.6 MEMSと薄膜製造
8.3.7 半導体製造
8.4 産業科学
8.4.1 発電、エネルギー
8.4.2 化学
8.4.3 自動車・航空宇宙
8.4.4 石油・ガス
8.4.5 再生可能エネルギー
8.4.6 鉱業
8.4.7 機械・工具
8.4.8 その他産業科学
9 故障解析の世界市場（地域別
9.1 はじめに
9.2 北米
9.2.1 米国
9.2.2 カナダ
9.2.3 メキシコ
9.3 欧州
9.3.1 ドイツ
9.3.2 イギリス
9.3.3 イタリア
9.3.4 フランス
9.3.5 スペイン
9.3.6 その他ヨーロッパ
9.4 アジア太平洋地域
9.4.1 日本
9.4.2 中国
9.4.3 インド
9.4.4 オーストラリア
9.4.5 ニュージーランド
9.4.6 韓国
9.4.7 その他のアジア太平洋地域
9.5 南米
9.5.1 アルゼンチン
9.5.2 ブラジル
9.5.3 チリ
9.5.4 南米その他
9.6 中東・アフリカ
9.6.1 サウジアラビア
9.6.2 UAE
9.6.3 カタール
9.6.4 南アフリカ
9.6.5 その他の中東・アフリカ地域
10 主要開発品目
10.1 合意、パートナーシップ、コラボレーション、ジョイントベンチャー
10.2 買収と合併
10.3 新製品上市
10.4 拡張
10.5 その他の主要戦略
11 企業プロファイリング
11.1 FEI社
11.2 (株)日立ハイテクノロジーズ
11.3 株式会社ジーオーエル
11.4 カールツァイス SMT GmbH
11.5 Intertek Group PLC
11.6 サーモフィッシャーサイエンティフィック
11.7 モーションXコーポレーション
11.8 テスカン・オルセー・ホールディング・A.S.
11.9 EAG (Evans Analytical Group) Inc.
11.1 エー・アンド・ディ・カンパニー・リミテッド
11.11 レイセオン社(米国)
11.12 マイヤー・バーガー・テクノロジー
11.13 キヤノンアネルバ株式会社
11.14 Veeco Instruments Inc.
11.15 ブルカー・コーポレーション
11.16 プラズマ・サーモ
11.17 Scia Systems GmbH
11.18 EDAX, Inc.
11.19 イノベーティブサーキットエンジニアリング社
11.2 IXRF Systems, Inc.
【お問い合わせ・ご購入サイト】
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資料コード：SMRC21942
